<strong id="3qvlu"></strong>

      <b id="3qvlu"></b>
      <sup id="3qvlu"><noscript id="3qvlu"></noscript></sup>

      <s id="3qvlu"><strong id="3qvlu"><dd id="3qvlu"></dd></strong></s>

    1. 
      
      <menuitem id="3qvlu"><u id="3qvlu"></u></menuitem>
    2. <p id="3qvlu"><thead id="3qvlu"></thead></p>

      <sup id="3qvlu"><big id="3qvlu"></big></sup>

        <source id="3qvlu"><delect id="3qvlu"></delect></source>

        <p id="3qvlu"><big id="3qvlu"><mark id="3qvlu"></mark></big></p>
        <p id="3qvlu"></p>
        <source id="3qvlu"></source>
        <samp id="3qvlu"></samp>
        <dl id="3qvlu"><dfn id="3qvlu"></dfn></dl>

      1. <menuitem id="3qvlu"></menuitem>
        <sup id="3qvlu"><noscript id="3qvlu"></noscript></sup>

        1. <menuitem id="3qvlu"></menuitem>
        2. <sup id="3qvlu"><video id="3qvlu"><listing id="3qvlu"></listing></video></sup>
          <menuitem id="3qvlu"><delect id="3qvlu"><th id="3qvlu"></th></delect></menuitem>
          1. <ins id="3qvlu"><noscript id="3qvlu"></noscript></ins>

              <menuitem id="3qvlu"><em id="3qvlu"><small id="3qvlu"></small></em></menuitem>

              <bdo id="3qvlu"></bdo>

            1. <sup id="3qvlu"><video id="3qvlu"></video></sup>
              <bdo id="3qvlu"><ruby id="3qvlu"></ruby></bdo>
                1. <source id="3qvlu"></source>

                  <ins id="3qvlu"></ins>

                  <bdo id="3qvlu"><tr id="3qvlu"></tr></bdo>

                        首頁 > 技術文章 > 光學膜厚測量儀的原理和產品特性介紹

                        光學膜厚測量儀的原理和產品特性介紹

                        2019-08-27 [697]
                           光學膜厚測量儀的特點是非接觸, 非破壞方式測量,無需樣品的前處理,軟件支持Windows操作系統等。光學薄膜測厚儀是使用可視光測量晶圓、玻璃等基材上形成的氧化膜,氮化膜,光致抗蝕劑等非金屬薄膜厚度的儀器。
                          光學膜厚測量儀測量原理如下:在測量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可視光,這時光的一部分在膜的表面反射,另一部分透進薄膜,然后在膜與底層 (晶圓或玻璃)之間的界面反射。這時薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產生干涉現象。光學薄膜測厚儀就是利用這種干涉現象來測量薄膜厚度的儀器。
                          儀器的光源使用鎢絲燈,波長范圍是400 nm~800 nm。從ST2000到ST7000使用這種原理,測量面積的直徑大小是4μm ~ 40μm (2μm ~ 20μm optional)。ST8000-Map作為K-MAC (株) 主要的產品之一,有影像處理的功能,是超越一般薄膜厚度測量儀器的新概念上的厚度測量儀器。測量面積的zui小直徑為0.2μm,遠超過一般厚度測量儀器的測量jixian (4μm)。順次測量數十個點才能得到的厚度地圖也可一次測量得到,使速度和度都大大提高。
                          光學膜厚測量儀特性:
                          a.測量膜厚和折射率,膜厚重復精度達1納米,折射率重復精度達0.01;
                          b.有配氣浮平臺便于移動大片玻璃;
                          c.質量控制,生產過程控制;
                          d.用于檢測太陽能AR減反膜玻璃生產線中整片玻璃的在線檢測或離線抽檢。
                          2.光學膜厚測量儀AR2 –ONLINE配套軟件特性:
                          a.菜單管理;
                          b.實時在線或離線抽檢監控和歷史數據界面;
                          c.輸出至SQL服務器;小型內置式SQL;
                          d.光學膜厚測量儀可根據客戶要求定制界面。
                        国产精品免费看_中文人妻有码无码人妻_99精品国产一区二区三区_三级片免费看久久 国产老妇伦国产熟女老妇_国产亚洲一区交换在线_亚洲中文自拍另类片_无码中文字幕一av王 亚洲男同志GAY 片可播放_亚洲综合欧美色五月俺也去_亚洲中文字幕无码亚洲人成影院_国产精品国产亚洲精品看不卡 亚洲综合成人婷婷五月在线观看_被十几个男人扒开腿猛戳_色欧美片视频在线观看_国产AV大陆精品一区二区三区 欧美最猛黑人xxxx_饥渴老熟妇乱子伦视频_GOGO全球高清大胆美女视频_老师好湿好紧我要进去了在线观看 亚洲天啪视频在线_亚洲精品无码白丝喷白浆在线播放_欧美亚洲另类精品一区二区_国产又色又爽又黄又刺激视