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                        淺析橢偏儀的成像技術原理

                        2019-10-28 [622]
                           橢偏儀的成像技術為超小塊的電影分析和原位橢圓偏振儀測量,流體環境橢偏測量分析,可以實現結合各種技術,例如布儒斯特角鏡、表面等離子體共振、原子力顯微鏡和石英晶體微天平儀器、磅槽、反射光譜法和太赫茲光譜、拉曼光譜和更多的研究人員使用。這些新的功能,擴展產品的橢偏法的應用領域。橢偏光學顯微技術帶來新的研究也構成的技術,例如在非測量液膜的穩定性和顯微成像面上的挑戰等。
                          橢偏儀應用廣泛在線監測薄膜的厚度,對成品率無疑至關重要。然而保鮮膜在傳送帶上的速度堪比百米飛人博爾特,檢測時間又以秒計,其難度可想而知。如此艱巨的任務,橢偏儀將如何完成呢?
                          在工程師的幫助下,橢偏儀與流水線巧妙地融為一體:
                          借助的數據庫和算法,橢偏儀每2秒即可進行一次的膜厚測量,可以實時跟蹤噴涂量對膜厚的影響:
                          橢偏儀還可以實時跟蹤石墨烯的沉積過程。
                          作為半導體科研事業的兩大主角:光電器件與光伏電池的關系自是不一般。上節課說過,橢偏儀如今已是光電器件領域的小紅人;那么接下來它與光伏電池的合作自然順理成章。
                          今天我們就來嘮嘮橢偏儀與光伏電池間的那點事兒。
                          太陽能硅電池表面層肩負導電、增透兩大關鍵任務,直接影響硅電池基本性能。通過提供硅電池表面層的結構、光學性質和電導率等信息,橢偏儀成為硅電池工藝優化的堅強后盾。
                          首先橢偏儀可以直接獲取漸變層的厚度以及表面粗糙度信息,如粗糙層532埃、SnO26582埃、SiCxOy256埃。
                          與此同時橢偏儀可以獲取漸變層SnO2頂部和底部的光學性質:直觀表示出SnO2頂部和底部折射率及吸光系數隨波長變化發生的改變:利用這組數據,我們可以進一步解析出表面層的減反射性質、載子濃度和電導率等等信息。
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